调整抛光质量参数

1. 灵敏度（Sensitivity）

• 目的 ：控制算法检测线性缺陷的阈值，基于其可见性（与背景的对比度）。

• 选项 ：最低、低、中等、高、最高

• 工作原理：

  • 更高的灵敏度 ：可检测更微小的缺陷，但可能包含误判（噪点）。

  • 更低的灵敏度 ：仅检测更明显的缺陷，但可能遗漏细微问题。

• 调整步骤：

  1. 从 "最低" 灵敏度开始。

  2. 如果某些关键缺陷未被检测到，提高灵敏度级别。

  3. 观察检测结果，避免过多误判。

2. 最小长度（Minimum Length）

• 目的 ：设置检测缺陷的最小长度，单位为微米（µm）。

• 工作原理：

  • 较大值 ：过滤掉较小的缺陷，仅关注更严重的问题。

  • 较小值 ：允许检测更短的划痕和旋涡纹，但可能会增加噪点检测。

• 调整步骤：

  1. 以默认值（100 微米）作为起点。

  2. 若需检测更短的缺陷，降低该值。

  3. 若需仅关注更显著的缺陷，增加该值。

  4. 根据产品质量要求优化设定，确保检测到符合标准的缺陷类型。

3. 遮罩半径（Mask Radius）

• 目的 ：排除高强度光斑的直接反射区域，以免干扰缺陷检测。

• 调整方法：

  1. 默认半径适用于光滑的镜面反射表面。

  2. 如果表面雾影或抛光痕迹增大了反射光斑尺寸，并干扰了缺陷检测，则增加遮罩半径。

  3. 观察检测结果，确保排除区域足够，但不过度屏蔽潜在缺陷。

通过合理调整这些参数，可以优化缺陷检测结果，确保对抛光质量的精准评估，同时避免误判和遗漏关键缺陷。